正確・迅速な分析作業で、不良の真因追究、規制への適合確認を支援
高度な専門性や機密性が求められる製品の解析・分析作業でもアウトソーシングするケースが増えつつある昨今。多岐にわたる分野を専門的にカバーできるのが当社の特長です。これまでに蓄積された高度なノウハウと最新の設備機器を駆使し、安心と安全、そして満足と感動をお届けしています。
表面／異物分析、物性／特性の測定と検査、断面観察や透視観察など、各種の手法を駆使しながら、広範な分野における受託分析・評価サービスをご提供します。特に、分析の前工程である断面試料の作製においては、大きな強みを有しています。
また、時には再現実験・再現試験を行うことで、電子部品やプリント配線板をはじめとする様々な製品の不良解析を行い故障原因を特定します。
最近では、大電力デバイスや二次電池、LEDなど最先端の製品を支える電子部品や、食品・バイオテクノロジー分野の分析にも携わっています。
不良解析サービスのフロー例
製品含有化学物質について EU RoHS指令 １０物質＋MCCP、TBBPA
EUを中心に、有害化学物質を排除した製品による循環経済社会を目指した環境規制の大きな流れの中で、WEEE/RoHS指令などが開始され、世界各国に波及しています。
SGSクオルテックでは、SGSグローバル拠点との連携により、各国RoHS指令やフタル酸エステル類などの環境負荷物質分析から、業界の規制動向に対応した各企業の策定するグリーン調達ガイドライン、製品含有化学物質の管理や構築支援サービスを展開しています。
各種分析・測定
- 走査型電子顕微鏡（SEM）による分析
- 電界放出型走査顕微鏡（FE-SEM）による分析
- エネルギー分散型X線分光器（EDS）による元素分析
- 電子線後方散乱回折法（EBSD）
- フーリエ変換-赤外分光法（FT-IR）による有機物分析
- プラズマFIB（Focused Ion Beam）断面加工・観察
- 断面研磨・CP（イオンミリング）加工
- パッケージ開封
- X線光電子分光（XPS）分析法
- 電子部品故障解析
- 故障モード再現実験
- X線CT&透視観察
- 超音波顕微鏡観察
- 発熱解析(ELITE)
- 3D形状測定（3Dマクロスコープ・レーザ顕微鏡）
- プロジェクション・モアレ式高精度反り・変形測定
- 酸化膜厚測定（SERA法）
- ウィスカ観察・解析
- プリント基板各種評価
- マイグレーション観察
- 蛍光X線膜厚測定器による測定
- 実装不良、はんだ、ソルダペースト、フラックスの調査・分析 ほか
VOC測定評価
- VOCチャンバー（1m3）
- HPLC（高速液体クロマトグラフ）
ケミカルラボラトリー
- REACH/SVHC（SCIP）、各国RoHS分析・支援
- ハロゲン、アンチモン、リン分析
- ELV、GADSL
- VOC（バッグ法/チャンバー法）、臭気、フォギング試験
- 北米（TSCA、Proposition 65など）
- 化学物質管理体制構築支援
